Bei transparenten Objekten ist eine mehrschichtige Dickenmessung möglich, wie Micro-Epsilon angibt. Der neue confocalDT 2471 HS soll vielfältige Einsatzmöglichkeiten in unterschiedlichen Branchen wie der Halbleiterindustrie, der Glasindustrie, der Medizintechnik oder der Kunststoffproduktion eröffnen.
Mit seiner integrierten Lichtquelle bietet der Controller stärkere Messeigenschaften und er verfügbt laut Hersteller über verbesserte optische Komponenten. Die integrierte Lichtquelle ist langlebig, was sowohl Wartungs- als auch Anschaffungskosten deutlich verringern soll. Die Belichtungszeit lässt sich aktiv einstellen, um verschiedene Oberflächentypen schnell und genau zu kompensieren, auch bei dynamischen Prozessen.
Erhältlich sind die Standardvariante und die Multipeak-Variante. Diese ermöglicht die einseitige Dickenmessung von transparenten Messobjekten mit bis zu fünf Schichten. Für die Dickenmessung steht eine Materialdatenbank zur Verfügung, die beliebig erweitert werden kann. Die Datenausgabe erfolgt über Ethernet, EtherCAT, RS422 und Analogausgang. Die Konfiguration von Controller und Sensoren wird ohne zusätzliche Software über ein Webinterface durchgeführt. Der confocalDT 2471 HS ist mit allen Sensortypen der IFS-Baureihe kompatibel.
