RF-Tests erfahren durch das Internet of Things gerade in Deutschland einen besonders starken Aufschwung. Diese sind aus Anwendungen in der Automobilindustrie wie eCall, Network Access Devices und Telematics Control Units und beispielsweise in Smart Homes und dem Consumer-Bereich nicht mehr wegzudenken. National Instruments und NOFFZ Technologies veranstalten am 24. Juni 2015 in Tönisvorst einen Technologietag zum Thema RF- und Wireless-Test.
Gezeigt werden Trends im Bereich RF ChipTesting, PXI-basierter Messgeräte, Adapterlösungen sowie standardisierter Komplettsysteme. Der parallel stattfindenden Workshop informiert nach Veranstalterangaben über die Vorteile von RF-Messtechnik auf Basis der PXI-Plattform. Praxisorientierte Übungen sollen Besucher mit deren Handhabung vertraut machen. Themenschwerpunkte sind National Instruments zufolge Mobile Device Tests, Communication System Design, RF Manufacturing Tests, Multi-DUT-RF-Tests für Cellular- und Connectivity-Applikationen und Non-Signaling-Chip-Testing.
Weitere Informationen erhalten Sie unter http://germany.ni.com/technologietag
Eckdaten:
Ort: Tönisvorst
Datum: 24. Juni 2015
