Der IC-Scanner ICS 105 von Langer EMV-Technik soll in Verbindung mit den Nahfeldmikrosonden vom Typ ICR Messungen von hochfrequenten Nahfeldern über integrierten Schaltkreisen (Set ICS 105 GND) und kleinen Baugruppen (Set ICS 105 UH) ermöglichen. Die Analyse der Nahfelder eines ICs ermöglicht ein genaueres Verständnis der Vorgänge im IC bei hohen Frequenzen. Störaussendungsprobleme eines ICs werden mit den Messungen analysiert und Bereiche des ICs werden aufgefunden, die die Störaussendung verursachen. Neben den ICR-Nahfeldmikrosonden des Herstellers können mit Hilfe der Sondenhalterung SH 01 Handsonden oder Feldquellen in den ICS 105 eingesetzt werden.
Je nach verwendeter ICR-Nahfeldmikrosonde wird Magnetfeld oder elektrisches Feld in einem Bereich von 50 mm x 50 mm x 50 mm gemessen und mit der Software CS-Scanner im PC dargestellt. Zur genauen Bestimmung der Richtung des magnetischen Feldes kann die ICR-Nahfeldmikrosonde durch die Rotationsachse automatisch um 360° gedreht werden. Die genaue Positionierung der Nahfeldmikrosonden über dem Messobjekt wird durch ein Videomikroskop erleichtert. Durch die minimale Schrittweite von 10 μm des Scanners ICS 105 erreicht die Messung eine sehr hohe Auflösung, so das Unternehmen.
Die Nahfeldmikrosonden vom Typ ICR eignen sich gemäß Hersteller für Messungen im Frequenzbereich von 1,5 MHz bis 6 GHz und erreichen eine Messauflösung von ca. 50 μm. Die Nahfeldmikrosonden für Magnetfeldmessungen sind in zwei verschiedenen Grundausführungen erhältlich. ICR-HV-Nahfeldmikrosonden sind mit einer vertikalen Messspule und ICR-HH-Nahfeldmikrosonden mit einer horizontalen Messspule ausgestattet. Der Sondenkopf der ICR-E-Nahfeldmikrosonde beinhaltet eine horizontale Elektrode zur Messung von elektrischem Feld. Die verschiedenen Typen der Nahfeldmikrosonden sind so gestaltet, dass für ein breites Spektrum von praktischen Messaufgaben die optimale Typauswahl getroffen werden kann.
Der IC-Scanner ICS 105 wird über eine USB-Schnittstelle mit einem PC verbunden und durch die Software ChipScan-Scanner (CS-Scanner) gesteuert. Damit soll sowohl das Bewegen einer Nahfeldmikrosonde als auch die Programmierung komplexer Messabläufe möglich sein. Die Software CS-Scanner ermöglicht das Auslesen der Messdaten vom Spektrumanalysator, die graphische Darstellung (2D oder 3D) und die Speicherung und Ausgabe (CSV–Datei) der Messdaten. Die wichtigsten Einstellungen am Spektrumanalysator können ebenfalls über die Software vorgenommen werden.
