Neue Messmethode Defekte in Halbleitern auf Atomebene aufspüren 06.12.2022Moderne Solarzellen arbeiten mit Dünnschichten aus Halbleitern, die Sonnenlicht in elektrische Energie umwandeln. ...
Defekte identifizieren Schnellste UV-Kamera mit 8,1 MP 26.08.2022SVS-Vistek stellt die Ultraviolett-Kamera fxo487 vor, die mit einer maximalen Bildrate von 194 Bildern/s und 8,1 ...
XXL-Torqueantrieb für defekte OLEDs Präzise Display-Reparatur gesucht 10.05.2022Ein südkoreanischer OLED-Display-Hersteller hat eine Maschine entwickelt, mit der sich unvermeidbare Fehler in der ...
Halbleiterchips verbessern Atomare Defekte an Bauteilen messen 17.01.2019In einem neuen Christian-Doppler-Labor an der TU Wien wird mit neuartigen Methoden erforscht, wie sich atomare ...
Effizienz von PV-Zellen verbessern Forscherteam entdeckt und bekämpft schädliche Defekte in Solarzellen 06.08.2018Selbst Solarzellen aus einem perfekten Wundermaterial würden niemals hundert Prozent des Sonnenlichts in elektrische ...
Industrielle Bildverarbeitung Deep Learning für eine intelligente Objekt- und Schrifterkennung 14.03.2018MVTec Software, Anbieter von Software für industrielle Bildverarbeitung zeigt auf der Hannover Messe ein umfassendes ...
Radartechnologie für effizientere Windräder Neuer Materialscanner prüft Rotorblätter auf Defekte 13.04.2017Mit dem neuartigen Radarscanner des Fraunhofer-Institut werden Defekte in der Materialzusammensetzung der ...
Inspektion Oberflächenprüfung per Deflektometrie 17.04.2016Ein Blick – ein Eindruck – eine Entscheidung. Oft ist es die Optik, die für den Kauf ausschlaggebend ist. Damit ...
