Neben den verbesserten Störparametern bietet Langer EMV-Technik nun auch verschiedene Probespitzen an. Zur Auswahl stehen Spitzendurchmesser von 1.000, 500,250 und sogar 150 µm.
Während die beiden größeren Spulen (500 und 1.000 µm) eher für Angriffe auf geschlossene Schaltkreise ausgelegt sind, erlauben insbesondere die beiden kleinen Störspulen (250 und 150 µm) eine örtliche sehr präzise Störung offener Schaltkreise. In der folgenden Abbildung ist beispielhaft ein Chip mit einer Kantenlänge von 4 mm dargestellt und eine mögliche Positionierung der unterschiedlichen ICI-DP Probespitzen. Gut zu erkennen ist die deutlich erhöhte Ortsauflösung bei den kleinen Probespitzen.
Abgerundet wird das Angebot von Langer EMV-Technik durch unterschiedliche Spitzentypen, das heißt mit welchen Abmessungen die Probespitze zum Gehäuse angebracht ist. Während der Standard-Spitzentyp (Tip Type 01) nah am Gehäuse liegt, bietet der Spitzentyp 02 (Tip Type 02) mehr Platz sowohl seitlich als auch nach unten. Spitzentyp 03 (Tip Type 03) richtet sich an Anwender, die besonders viel Platz nach unten benötigen. Weitere kundenspezifische Spitzentypen können auf Anfrage ebenfalls bereitgestellt werden. Ebenso können die Spitzentypen auch für die ICI-Serie geordert werden.
