Ganz dem Thema Schäden an elektronischen Baugruppen hat sich das Seminar „Ausfallursachen- und Schadensanalytik an elektronischen Baugruppen“ verschrieben. Es findet vom 24. bis zum 25. Juni in Ingolstadt statt. Veranstaltet wird es vom Ostbayerischen Technologie-Transfer-Institut, kurz OTTI. Schwerpunkte des Kurses sind laut Veranstalter Techniken der Schadens- und Ausfallanalyse, typische Ursachen von Feldausfällen und Schadensbilder bei Testausfällen. Neben diesem theoretischen Teil wird es laut OTTI auch praktische Übungen geben. So sollen verschiedene Schadensfälle in kleinen Arbeitsgruppen bearbeitet werden.
24. bis 25. Juni 2015 Schadensanalyse leicht gemacht
Bild: Rainer Sturm/ pixelio.de, www.pixelio.de
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Ostbayerisches Technologie- Transfer-Institut e.V. (OTTI)
Regensburg, Deutschland
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